Cellule d'essai de cycle de gel humide de module photovoltaïque / cellule d'essai de cycle de haute et basse température / cellule d'essai de haute température et haute humidité

Cellule d'essai de cycle de gel humide de module photovoltaïque / cellule d'essai de cycle de haute et basse température / cellule d'essai de haute température et haute humidité

(Programmable

Temperature&Humidity Chamber for Solar energy)

Utilisation du produit:Les cellules solaires à film mince peuvent être utilisées dans différents matériaux tels que le verre, le plastique, la céramique, le graphite, la Feuille de métal et d'autres à bas prix lorsque le substrat est fabriqué, les cellules solaires à film mince dans le cycle de température, la congélation humide, le test thermique humide de mesure et la manière d'entrée de tension, le type de plaquette n'est pas le même, donc la méthode de mesure est également toutes différentes, ne peut pas être confondue, les spécifications d'essai sur lesquelles les cellules solaires à film mince sont basées sont IEC61215, IEC61646, UL1703, IEC62108,IEEE1513,IEC61730，GB9535，
GB18911

　

… attendez.

Il suffit de quelques µm d'épaisseur pour former un film mince susceptible de générer une tension, ce qui permet de réduire considérablement la quantité de matière première utilisée par les cellules solaires à plaquettes de silicium sous une même surface photosensible (l'épaisseur peut être inférieure de plus de 90% à celle des cellules solaires à plaquettes de silicium),À l'heure actuelle, l'efficacité de conversion jusqu'à 13%, les cellules solaires à membrane mince en plus de la surface plane, mais aussi parce que la flexibilité peut être faite dans une construction non plane, sa large gamme d'applications peut être combinée avec un bâtiment ou transformé en une partie du corps du bâtimentPartie, sur la fabrication de cellules solaires à film mince, vous pouvez utiliser une variété de techniques de deposition, couche après couche pour faire croître le matériau de type P ou n, les cellules solaires à film mince communes sont amorphesLe silicium, CuInSe2 (CIS)、CuInGaSe2 (CIGS)、 Et CdTe, etc.Introduction au catalogue des spécifications connexes:Énergie solaire cristalline de silicium

Pour:IEC61215、UL1703、

GB9535Film mince solairePour: IEC61646、

GB18911Solaire concentréPour:IEC62108

　

、

IEEE1513※ les éléments d'inspection requis par les spécifications doivent être effectués après les essais pertinents(

Apparence, résistance d'isolation, puissance de sortie maximale) et
Spécifications connexes détails:
Thermal cycle test(
Essai de cycle de température
) et
Objectif:

Déterminer la défaillance thermique causée par la fatigue et d'autres contraintes lors de changements répétés de température de l'assemblage.	Exigences:	Enregistrement de la température du module tout au long du processus d'essai, mesure et enregistrement de la température du module précision de l'instrument ± 1 ℃	Instruments pour surveiller la continuité électrique à l'intérieur de chaque module tout au long du processus d'essai	3. Instruments pour surveiller l'intégrité de l'isolation entre l'extrémité cachée de chaque module et la lunette ou le cadre de support	4. Surveiller toute défaillance de circuit ouvert ou de mise à la terre qui pourrait survenir (aucune défaillance intermittente de circuit ouvert ou de mise à la terre pendant les essais).
Comparaison des cycles de température	-40Basse température2Haute température	85Taux de variation de température2Temps de résidence	Nombre de cycles100IEC61215±	℃±	50℃200
Max	-40℃2/h	85Le moins210min	、100GB9535±	℃±	50℃200
Max	-40℃2/h	85Le moins210min	、100IEC61646±	℃±	50℃200
Max	-40℃2/h	85Le moins210min	、100GB18911±	℃±	50℃200
Max	-40℃2/h	90Le moins210min	、120UL1703±	30℃±	200
℃	-40Max2℃	65/h85à110105min	IEC62108	±	500℃1000℃,2000
℃,	-40℃	6510cycle/day8510min110、	、	IEC62108	500℃1000℃,2000
℃,	-40℃	9018cycle/day11010min	0.9、7.5、IEEE1513	℃℃,	250℃500
à	-40℃	90/min110Le moins	10min100、IEEE1513	℃℃,	100℃200
Max	-40℃	60/h90Le moins	10min100、IEEE1513	℃℃,	50℃200

　

Max℃/h

Le moins10min
、
Humidity-freeze test(
Test de congélation humide
) et
Objectif:

Déterminer la capacité de l'assemblage à résister à des températures élevées, après une humidité élevée et par la suite à des températures inférieures à zéro.	Exigences:	Enregistrement de la température du module tout au long du processus d'essai, mesure et enregistrement de la température du module précision de l'instrument ± 1 ℃	Instruments pour surveiller la continuité électrique à l'intérieur de chaque module tout au long du processus d'essai	3. Instruments pour surveiller l'intégrité de l'isolation entre l'extrémité cachée de chaque module et la lunette ou le cadre de support
4. Surveiller toute défaillance de circuit ouvert ou de mise à la terre qui pourrait survenir (aucune défaillance intermittente de circuit ouvert ou de mise à la terre pendant les essais).	85Comparaison des cycles de températureHaute température haute humiditéBasse températureTaux de variation de température	-40Nombre de cyclesIEC61215℃/ 85	±5% (20h)℃(0.5 à4h)Température élevée de montée et de descente(100	10
℃	85/h)Basse température température de montée et de descente(200℃	-40/h)GB9535℃/ 85	±5% (20h)℃(0.5 à4h)Température élevée de montée et de descente(100	10
℃	85/h)Basse température température de montée et de descente(200℃	-40/h)IEC61646℃/ 85	±5% (20h)℃(0.5 à4h)Température élevée de montée et de descente(100	10
℃	85/h)Basse température température de montée et de descente(200℃	-40/h)GB18911℃/ 85	±5% (20h)℃(0.5 à4h)Température élevée de montée et de descente(100	10
℃	85/h)Basse température température de montée et de descente(200℃	-40/h)UL1703℃/ 85	±2,5% (20h)℃(0.5 à4h)Température élevée de montée et de descente(120	10
℃	85/h)Basse température température de montée et de descente(200℃	-40/h)IEEE1513℃/ 85	±2,5% (20h)℃(0.5 à4h)Température élevée de montée et de descente(100	20
℃	85/h)Basse température température de montée et de descente(200℃	-40/h)IEC62108℃/ 85	±2,5% (20h)℃(0.5 à4h)Température élevée de montée et de descente(100	20℃40

　

/h)Basse température température de montée et de descente(200
℃/h)
、Damp Heat(
　

　

Test de chaleur humide) etObjectif:Déterminer la capacité du module à résister à la pénétration prolongée de l'humidité.

1. Conditions d'essai:85

2. ± 2 ℃ / 85 ± 5% / 1000h (iec61646-10.13, gb18911-10.13, cns15115-10.13)

3. Projets optionnels (

4. option) etPour:USB

5. Dispositif de lecture des données d'essai

6. Contrôle de la température de surface de l'échantillon

7. Impossible d'ouvrir l'appareil en marche

8. Portes intérieures en verre trempé

9. (Trou de fonctionnement attaché

10. ) et

Enregistreur automatique de température et d'humidité

Unité de traitement de l'eau pureSystème de déshumidification chimique de type ruche

　 　 　 　 　

Logiciel d'enregistrement opérationnel

　

LN2 Système de refroidissement rapide

Système de réseau de télécommande à distance illimitée Photo du Contrôleur:	Courbe de température et d'humidité3800	Pour:6000	Spécifications spécifiques / Spec:86※	Autres exigences de taille, peut être personnalisé selon les exigences du client8320	Model9500	Modèle0800
Q- WI- Q- WI-Q- WI-	9000W265Q- WI-160	130Q- WI-280Q- WI-1170	200Internal Dim160Dimensions intérieures270	200W*H*D(cm)260×160	200×280×170	235×270×170
× × ××× ×	×Recommended Capacity	Modules photovoltaïques（	220 * 110 * 5cm	) etQuantité de placement recommandée	3 ~ 6Les morceaux	188 à 1020Les morceaux
8 à 10 Les morceaux	12 à 15Les morceaux10015 à 18Les morceaux~ Les morceauxTemp. Range0Plage de températureHaute température:-20L:℃-40, N:130℃Basse température:A:℃
, B: ℃,C:℃	,
D:-60 ℃	, E:-700.3℃Relative Humi. Range Plage d'humidité
( Type humidité uniquement	) et1.020%~98% R.HTemp.& Humi. StabilityStabilité de contrôle de la température et de l'humidité± ℃ ;± 2,5% r.hTemp. & Humi. VariationDéviation de la distribution de la température et de l'humidité±℃(-40~100 ℃) et/ ± 1,5 ℃(-40.1~-70℃
100,1 à 130 ℃	1) et± 3% R.H. ( 2>75%) 3.3/± 5% r.h (
≤ 75%)	1Heat-up SpeedVitesse de réchauffement 2℃/min ; 3.3℃/min;